DGIST, 뇌손상 최소화 도파민 측정 소자 개발

국내 연구진이 중추신경계의 신경전달물질인 도파민을 측정할 때 뇌 손상을 최소화할 수 있는 탐침 소자를 개발했다.

장경인 대구경북과학기술원(DGIST) 로봇및기계전자공학과 교수 연구팀은 기존 탐침에 사용되던 소자보다 유연하면서도 도파민의 정밀 측정이 가능한 소자를 개발했다고 27일 밝혔다.

도파민은 동기 부여, 기억, 보상과 같은 다양한 뇌 기능과 관련이 있는 물질이다. 도파민 농도가 비정상적으로 높거나 낮으면 퇴행성 뇌 질환을 일으킬 수 있다. 그렇기 때문에 농도를 실시간으로 정밀하게 측정하는 것은 의학계에서 매우 중요한 과제 중 하나다. 도파민 측정은 뇌에 탐침을 삽입하는 방식으로 이뤄지고 있다.

기존 탐침은 정확한 측정을 위해 2개 이상 사용되는 데다 소자의 성질이 빳빳해 삽입 시 뇌 손상이나 염증을 유발할 위험이 있었다. 연구팀이 새로 개발한 소자는 양면 구조로 이용 면적이 두 배로 증가해 탐침을 하나만 사용해도 된다. 또 구조가 유연해 뇌가 다칠 가능성을 크게 줄였다.

장 교수는 “이번에 개발한 탐침으로 장기간 안정적인 도파민 농도 측정이 가능해질 것”이라며 “추후 뇌 질환 환자를 보조하는 탐침 개발에도 기준이 될 수 있다”고 설명했다.